Charakterystyka Optyczna Epitaksjalnych Warstw Półprzewodnikowych
0.00 z 0 ocen
Producent: Springer | Kod producenta: biography |
Indeks: 805133
Dostępny
175.98 zł
najniższa cena z ostatnich 30 dni:
172.67 zł
Liczba sztuk:
z 10 sztuk
poproś o fakturę proforma
dodaj
do obserwowanych
do obserwowanych
od 8,99 zł
koszt dostawy
koszt dostawy
pon, 14 lip
u Ciebie
u Ciebie
14 dni
na odstąpienie
na odstąpienie
Książka "Charakterystyka Optyczna Epitaksjalnych Warstw Półprzewodnikowych" to niezwykle wartościowe źródło wiedzy dla każdego, kto interesuje się naukami ścisłymi i inżynierią materiałową. Dowiedz się więcej o optyce, fizyce i technologii półprzewodników.
Opis
"Charakterystyka Optyczna Epitaksjalnych Warstw Półprzewodnikowych" to podręcznik stworzony z myślą o studentach oraz profesjonalistach zajmujących się nauką i technologią półprzewodników. Książka ta omawia szerokie spektrum tematów związanych z optyką materiałów, skupiając się szczególnie na metodach charakteryzacji optycznej. W przystępny sposób przedstawione zostały pojęcia związane z dyfrakcją, elipsonometrią, rozpraszaniem oraz spektroskopią, które są kluczowe dla zrozumienia właściwości półprzewodników. Publikacja posiada 452 strony wypełnionych wiedzą praktyczną; każdy rozdział został napisany przez ekspertów z dziedziny inżynierii elektroniki oraz fizyki materiałowej. Dodatkowo, wydanie softcover reprint z oryginału z 1996 roku zapewnia zachowanie literackiej wartości tekstu oraz dostępność na rynku. Książka wydana przez renomowaną wydawnictwo Springer jest doskonałym przewodnikiem dla osób pragnących pogłębić swoją wiedzę o półprzewodnikach oraz technologii laserowej.
Wizualizacja i analiza materiałów półprzewodnikowych stanowią podstawę dla nowoczesnej technologii elektroniki oraz fotoniki. Skuteczne zastosowanie elipsonometrii w połączeniu z teorią dyfrakcji umożliwia dokładne pomiary parametrów optycznych, co jest niezbędne dla rozwoju nowych materiałów. "Charakterystyka Optyczna Epitaksjalnych Warstw Półprzewodnikowych" dostarcza zarówno podstaw teoretycznych, jak i praktycznych wskazówek dotyczących przeprowadzania badań. W książce zawarte są również informacje na temat znaczenia cienkowarstwowych struktur w różnych dziedzinach materiałoznawstwa oraz inżynierii elektronicznej. Każdy rozdział jest wzbogacony przykładami, które pomagają w lepszym zrozumieniu omawianych zjawisk fizycznych.
Dla studentów i profesjonalistów
Książka "Charakterystyka Optyczna Epitaksjalnych Warstw Półprzewodnikowych" to niezastąpiona pozycja zarówno dla studentów, jak i dla profesjonalistów. Oferując dogłębną wiedzę na temat technologii półprzewodników, staje się idealnym narzędziem edukacyjnym.
Zrozumienie technologii półprzewodników
Książka wyjaśnia zjawiska fizyczne, które są kluczowe dla rozwoju technologii półprzewodnikowej. Zawiera praktyczne przykłady zastosowania elipsonometrii oraz spektroskopii, co czyni ją wartościowym źródłem informacji.
Wydanie od renomowanego wydawcy
Publikacja przygotowana przez wydawnictwo Springer, znane z wysokiej jakości naukowej swoich książek. Wydanie to z 1996 roku dostarcza wiedzy, która ciągle pozostaje aktualna w kontekście nowoczesnych badań i technologii.
Jednym z kluczowych aspektów publikacji jest jej prowadzenie przez zróżnicowanych specjalistów, którzy bazują na swoim bogatym doświadczeniu w pracy naukowej i badawczej. Znajdziesz tu nie tylko teoretyczne podstawy, ale i konkretne aplikacje zdobytą wiedzę w kontekście współczesnych wyzwań technologicznych. Dzięki przystępnemu językowi i logicznemu podziałowi treści, podręcznik jest idealny dla studentów uczelni wyższych, absolwentów oraz nauczycieli akademickich, a także wszystkich pasjonatów nauki chcących zgłębić tajniki optyki i materiałoznawstwa.
Parametry
Waga
635g
Język
Angielski
Liczba stron
452
Kategoria
Nauka
Rodzaj oprawy
Miękka
Opinie
0.00 /5 (ilość opini: 0)
5
0
4
0
3
0
2
0
1
0
Znasz ten produkt?
Twoja opinia pomoże innym!
Pytania i odpowiedzi
Brak pytań i odpowiedzi
Pliki do pobrania
Zobacz także