logo

Defekty SiO2 i Pokrewnych Dielektryków: Nauka i Technologia - Część II

0.00
z 0 ocen
Producent: Springer | Kod producenta: 9780792366867 | Indeks: 851153
Format
opakowanie miękkie
Wydawca
Springer
Rok wydania
2009
Liczba stron
636
Dostępny
870.90 zł
najniższa cena z ostatnich 30 dni: 870.90 zł
Liczba sztuk:
z 30 sztuk
dodaj
do obserwowanych
od 8,99 zł
koszt dostawy
Książka "Defekty SiO2 i Pokrewnych Dielektryków" to niezbędna pozycja dla każdego inżyniera i badacza zainteresowanego zaawansowanymi materiałami dielektrycznymi. Dowiedz się więcej o technologii i nauce dotyczącej dielektryków przez pryzmat najnowszych badań.
Opis
Książka "Defekty SiO2 i Pokrewnych Dielektryków: Nauka i Technologia - Część II" autorstwa renomowanego wydawnictwa Springer jest pozycją obowiązkową dla studentów, naukowców oraz inżynierów, którzy pragną zgłębić temat dielektryków i ich zastosowania w nowoczesnych technologiach. W publikacji omówione są zagadnienia związane z defektami w materiałach dielektrycznych, szczególnie w SiO2 oraz pokrewnych substancjach, które znajdują szerokie zastosowanie w elektronice oraz inżynierii materiałowej. Książka dostarcza głębokiej wiedzy w zakresie fizyki ciała stałego, procesów dopingowych oraz optyk spektroskopowych, które są kluczowe dla zrozumienia właściwości elektrycznych tych materiałów. Dzięki szczegółowym analizom oraz aktualnym badaniom, czytelnicy zyskają insight do najnowszych metod badawczych oraz technologii produkcji dielektryków.
W drugim tomie serii NATO Science Series II, dobrze zorganizowane rozdziały prowadzą czytelnika przez skomplikowany świat dielektryków, pokazując zarówno podstawy teoretyczne, jak i praktyczne aspekty badań. Książka jest podzielona na kilka sekcji, w których szczegółowo opisano różne techniki analizy materiałów, ich charakterystykę oraz metody testowania. Autorzy, będący ekspertami w swoich dziedzinach, przedstawiają wyniki najnowszych badań, które pomogą w rozwoju nowych, innowacyjnych materiałów dielektrycznych oraz ich zastosowania, co jest niezwykle istotne w kontekście dzisiejszej technologii komputerowej i telekomunikacyjnej. Publikacja jest wyposażona w liczne ilustracje, wykresy oraz tabele, które ułatwiają zrozumienie złożonej tematyki.
Odkryj nowe możliwości
Nasz produkt to nie tylko książka – to brama do świata zaawansowanej inżynierii i materiałoznawstwa. Poznaj najnowsze odkrycia i technologie w dziedzinie dielektryków!
Wiedza poparta badaniami
Książka zawiera szczegółowe analizy i badania, które są aktualne i użyteczne w kontekście technologii produkcyjnych. To idealna lektura dla każdego, kto chce być na bieżąco z najnowszymi osiągnięciami w dziedzinie materiałów.
Idealna dla studentów i profesjonalistów
Bez względu na to, czy jesteś studentem, nauczycielem, czy profesjonalistą w branży, ta publikacja dostarczy Ci wielu cennych informacji i inspiracji do dalszego rozwoju kariery.
Książka "Defekty SiO2 i Pokrewnych Dielektryków: Nauka i Technologia - Część II" nie tylko wzbogaca wiedzę teoretyczną, ale także jest źródłem praktycznych informacji, które mogą być wykorzystane w różnych gałęziach przemysłu. Dbanie o jakość materiałów oraz zrozumienie ich właściwości elektrycznych jest kluczowe dla dalszego rozwoju technologii. Dzięki rzetelnym badaniom i dokładnym eksperymentom przedstawionym w książce, inżynierowie oraz naukowcy będą mogli efektywnie rozwijać nowe urządzenia i systemy, które charakteryzują się wysoką wydajnością oraz niezawodnością. Zrozumienie defektów i ich wpływu na właściwości dielektryków to krok niezbędny w kierunku innowacji w materiałach oraz technologii inżynieryjnej.
Parametry
Format
opakowanie miękkie
Wydawca
Springer
Rok wydania
2009
Liczba stron
636
Język
angielski
Opinie
0.00 /5
(ilość opini: 0)
5
0
4
0
3
0
2
0
1
0
Znasz ten produkt?
Twoja opinia pomoże innym!
Pytania i odpowiedzi
Pliki do pobrania