logo

Generowanie testów opóźnień crosstalk w obwodach VLSI

0.00
z 0 ocen
Producent: Springer | Indeks: 827748
Wydanie
Softcover reprint of the original 1st ed. 2019
Liczba stron
167
Waga
454 grams
Niedostępny
698.55 zł
najniższa cena z ostatnich 30 dni: 698.55 zł
dodaj
do obserwowanych
od 8,99 zł
koszt dostawy
Odkryj tajniki generowania testów opóźnień crosstalk w obwodach VLSI. Książka zawiera szczegółowe analizę oraz zaawansowane algorytmy potrzebne do diagnostyki błędów w systemach elektronicznych.
Opis
Książka "Generowanie testów opóźnień crosstalk w obwodach VLSI" autorstwa Jayanthy i Bhuvaneswari to publikacja, która zbiera w sobie wiedzę teoretyczną i praktyczną dotyczącą detekcji i eliminacji opóźnień spowodowanych zjawiskiem crosstalk w obwodach scalonych. Dla inżynierów i studentów kierunków elektronicznych, książka ta stanie się cennym źródłem informacji o najnowszych metodach generowania testów, które pomagają zidentyfikować usterki związane z opóźnieniami sygnału. Praca ta dostarcza szczegółowych informacji na temat VLSI (Very Large Scale Integration) oraz wykorzystuje deterministyczne i genetyczne algorytmy, które są kluczowe w doskonaleniu projektów obwodów elektronicznych. Obejmuje szeroki zakres zagadnień związanych z architekturą komputerową, analizą systemów, a także strukturami algorytmu, co czyni ją nieodłącznym elementem biblioteki każdego inżyniera. Sięgnij po tę książkę, aby poszerzyć swoje horyzonty w zakresie inżynierii elektronicznej i logicznej.
W książce szczegółowo opisano problem opóźnień crosstalk, który jest kluczowym aspektem w projektowaniu współczesnych systemów VLSI. Problem ten staje się coraz bardziej palący wraz z miniaturyzacją układów oraz zwiększaniem ich złożoności. Autorzy nie tylko przedstawiają teoretyczne podstawy crosstalk, ale również niezawodne metody ich analizy. Zawarte w publikacji przykłady i analizy przypadków dostarczają czytelnikom praktycznych narzędzi, które można zastosować w rzeczywistych projektach. Zbadaj również różnorodne algorytmy, jakie są wykorzystywane do analizy opóźnień sygnału – od algorytmów deterministycznych po bardziej nowoczesne algorytmy genetyczne. Książka ta jest wartościowym zasobem dla każdego, kto pragnie rozwijać swoje umiejętności w obszarze projektowania i diagnostyki błędów w systemach elektronicznych.
Doskonal swoje umiejętności inżynierskie
Książka oferuje zaawansowane techniki generowania testów opóźnień crosstalk, które są nieocenione w projektowaniu i diagnozowaniu układów VLSI.
Praktyczne algorytmy w teorii i praktyce
Poznaj różnorodne algorytmy wykorzystywane w analizie crosstalk oraz ich zastosowanie w rzeczywistych projektach inżynieryjnych.
Idealna dla studentów i inżynierów
Publikacja jest skierowana zarówno do studentów kierunków technicznych, jak i praktyków, oferując cenne źródło wiedzy na temat współczesnych wyzwań w inżynierii elektronicznej.
Oprócz analizy crosstalk, publikacja porusza inne istotne aspekty inżynierii elektronicznej. Wśród nich znajdują się zagadnienia związane z projektowaniem obwodów, rozwiązania problemów związanych z inżynierią systemów oraz metody analizy i optymalizacji układów. Autorzy podkreślają znaczenie ciągłego rozwoju technik badawczych oraz wprowadzania innowacji do klasycznych modeli projektowych. Dlatego też, książka jest nie tylko doskonałym przewodnikiem dla studentów, ale również praktycznym narzędziem dla inżynierów pracujących w branży. Nie czekaj, by wykorzystać wiedzę zawartą w tej publikacji i doskonalić swoje umiejętności analityczne w zakresie bardzo zaawansowanych systemów elektronicznych.
Parametry
Wydanie
Softcover reprint of the original 1st ed. 2019
Liczba stron
167
Waga
454 grams
Opinie
0.00 /5
(ilość opini: 0)
5
0
4
0
3
0
2
0
1
0
Znasz ten produkt?
Twoja opinia pomoże innym!
Pytania i odpowiedzi
Pliki do pobrania