logo

Krytyczne Zjawiska na Powierzchniach i Interfejsach: Ulotne Rozpraszanie Rentgenowskie i Neutronowe

0.00
z 0 ocen
Producent: Springer | Kod producenta: 9783662149751 | Indeks: 710825
Wydawca
Springer
Liczba stron
160
Język
angielski
Waga
0.518 funtów
Dostępny
218.46 zł
najniższa cena z ostatnich 30 dni: 214.68 zł
Liczba sztuk:
z 30 sztuk
dodaj
do obserwowanych
od 8,99 zł
koszt dostawy
Odkryj tajniki krytycznych zjawisk na powierzchniach i interfejsach dzięki tej znakomitej publikacji. Interdyscyplinarne podejście łączy fizykę, chemię i inżynierię, co czyni tę książkę niezbędną dla każdego naukowca.
Opis
Książka "Krytyczne Zjawiska na Powierzchniach i Interfejsach: Ulotne Rozpraszanie Rentgenowskie i Neutronowe" autorstwa Helmuta Doscha to wzbogacona wiedza na temat nowoczesnych technik rozpraszania. Publikacja ta jest skierowana do zarówno profesjonalistów, jak i studentów zaawansowanych, zajmujących się naukami ścisłymi. Praca omawia krytyczne zjawiska, takie jak fazowe przejścia, a także ich zastosowanie w różnych dziedzinach, w tym fizyce materiałów, chemii fizycznej oraz inżynierii. Dzięki nowoczesnym technikom analitycznym, czytelnik pozna skomplikowane interakcje jakie zachodzą na powierzchniach oraz jak różne czynniki wpływają na właściwości materiałów. Książka ta z pewnością wzbogaci warsztat badacza o nowe metody badawcze oraz otworzy drzwi do innowacyjnych rozwiązań w inżynierii materiałowej.
Dosch, Helmut w swojej książce porusza tematyki związane z rozpraszaniem promieni rentgenowskich oraz neutronów, co jest kluczowe w analizie struktury materiałów. Tematyka obejmuje nie tylko teorię, ale także praktyczne aspekty prowadzenia eksperymentów. Autor umiejętnie łączy teoretyczne podstawy z praktycznymi przykładami, co pozwala na lepsze zrozumienie złożonych zjawisk. Pozycja ta nie tylko dostarcza wiedzy na temat metod badań, ale także ukazuje ich zastosowania w technologii i inżynierii materiałowej. Książka zawiera liczne ilustracje, które pomagają w lepszym zrozumieniu opisywanych zjawisk. Jest to publikacja, która wpisuje się w trendy współczesnej nauki, uwzględniając nowe podejścia i technologie w badaniach materiałów.
Odkryj nową głębię nauki
Zgłębiaj tajniki fizyki oraz chemii dzięki nowoczesnym badaniom krytycznych zjawisk.
Praktyczne aspekty badań materiałowych
Naucz się, jak wykorzystać rozpraszanie rentgenowskie i neutronowe w pracy badawczej.
Dla kogo jest ta książka?
Zarówno dla studentów, jak i profesjonalistów w dziedzinie nauk przyrodniczych, inżynierii i technologii.
"Krytyczne Zjawiska na Powierzchniach i Interfejsach" to nie tylko książka pełna teorii, ale także praktycznych wskazówek i badań, które można przełożyć na konkretne zastosowania. Czytelnicy dowiedzą się, jak krytyczne właściwości na poziomie atomowym wpływają na makroskalowe zachowania materiałów. Odkryjesz, jak techniki rozpraszania rentgenowskiego i neutronowego są stosowane w badaniach materiałów, a także jakie nowe kierunki badawcze mogą być rozwijane w przyszłości. Publikacja przygotowana przez renomowanego wydawcę, Springer, stanowi doskonałe źródło wiedzy dla każdego, kto chce zrozumieć skomplikowane procesy zachodzące w osłabionych powłokach oraz przy powierzchni materiałów, oferując niezwykła głębię analizy oraz szeroki wachlarz przykładów i wyników.
Parametry
Wydawca
Springer
Liczba stron
160
Język
angielski
Waga
0.518 funtów
ISBN
9783662149751
Data wydania
2013-10-03
Opinie
0.00 /5
(ilość opini: 0)
5
0
4
0
3
0
2
0
1
0
Znasz ten produkt?
Twoja opinia pomoże innym!
Pytania i odpowiedzi
Pliki do pobrania